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材料的透射电子显微学与衍射学
（美国）Brent Fultz；（美国）James Howe2017 年出版658 页ISBN：9787312037498本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜（TEM）和X-射线衍射（XRD）。与第三版相比，这一版所有章节都进行了更新和修订，并增加了与TEM有关的重要的新技术，如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解....
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单晶X射线衍射结构解析
张俊，杜琳著2017 年出版166 页ISBN：9787312040870本书面向广大物质结构及晶体材料研究者，阐述应用X射线衍射解析单晶结构完整过程，对无序结构精修、cif文件填写及检测问题处理、物质结构理论、CCDC号申请、publcif软件编辑cif文件等进行详尽论述，是关于晶体学...
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X射线荧光分析系统技术原理和应用
庹先国2017 年出版210 页ISBN：9787502282349本书着重阐述能量色散X荧光分析系统的技术方法、原理和典型应用等内容，以及相关的进展情况和最新成果。内容包括：X射线荧光的基础理论和分析原理；X射线能谱的分析方法；能量色散X荧光的定性和定量分析方法；X射线...
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材料分析测试技术与应用
马毅龙编2017 年出版182 页ISBN：7122301761本教材主要内容包括常用材料微观结构测试方法，如X射线衍射、透射电镜、扫描电镜、扫描隧道显微镜，以及常用化学分析测试，如热分析、xps及光谱分析等，同时包括材料常用物理性能测试，如磁性能测试和电性能测试等。...
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同济博士论丛 极紫外与软X射线多层膜偏振元件研究
王洪昌，王占山著2017 年出版116 页ISBN：9787560869322针对极紫外和软X射线常规周期多层膜偏振元件带宽窄导致的测试困难的现状，本书首次提出了非周期多层膜宽带偏振光学元件的方法，克服了常规周期多层膜带宽窄、测试时元件需要平移或旋转的难题。本书适合物理学...
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