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第1章　绪论 1

1.1　自动测试的意义 1

1.2 自动测试的概念及其发展 3

1.3　接口的演变 5

1.4　第二代和第三代自动测试系统 8

习题与思考题 9

参考文献 9

第2章　GPIB数字接口 10

2.1　开放式互联设备数字接口总线的发展 10

2.2　GPIB的基本特性 13

2.3　GPIB器件模型 15

2.4　GPIB总线 16

2.4.1　GPIB总线的结构 16

2.4.2　数据母线 17

2.4.3　挂钩控制母线 17

2.4.4　管理母线 19

2.4.5　母线连接器 20

2.5　接口功能及其赋予器件的能力 21

2.5.1　五种基本接口功能 21

2.5.2　辅助接口功能五种 22

2.6　总线接口消息 23

2.6.1　GPIB消息分类及传递途径 23

2.6.2　接口消息编码 24

2.7　电气接口 27

2.8　DIO线消息拜特传递控制规程——三线连锁挂钩过程 29

2.9　GPIB事件序列推荐 32

2.9.1　器件消息拜特的传递 32

2.9.2　器件清除和触发的执行 33

2.9.3　服务请求与串行查询序列 34

2.9.4　并行查询序列 36

2.9.5　负责控者转移的实现 39

2.10　GPIB接口功能的规定 40

2.10.1　接口状态图 40

2.10.2　时限 41

2.10.3　输出消息 42

2.10.4　接口功能子集 42

习题与思考题 43

参考文献 44

第3章 器件数据句法格式与公用命令 46

3.1　程控设备的器件数据趋于标准化 46

3.2　GPIB器件操作与器件数据传递 48

3.2.1　设备在GPIB系统中的地位 48

3.2.2　仪器的GPIB操作与控制 49

3.2.3　GPIB系统的器件数据传递 50

3.3　器件接口功能配置与附加要求 51

3.4　测量仪器的器件数据 51

3.4.1　仪器的程控消息 54

3.4.2　仪器的响应消息 56

3.4.3　仪器的状态数据报告 59

3.5　消息交换控制协议 59

3.5.1　交换控制功能构成模型 61

3.5.2　消息交换控制操作 66

3.6　信息数据编码与数值数据格式 70

3.6.1　信息数据编码 70

3.6.2　数值数据二进制编码和格式 71

3.6.3　ASCII码数值数据表示法 73

3.7　〈程控消息〉编码句法 73

3.7.1　程控消息的结束与分界 74

3.7.2　程控〈命令消息单元〉 74

3.7.3　程控〈询问消息单元〉 82

3.8　〈响应消息〉编码句法 84

3.8.1　〈响应消息单元〉的双重性 84

3.8.2　〈响应题头〉编码句法 84

3.8.3　〈响应数据〉功能元素的编码格式 86

3.8.4　响应消息定界符 88

3.9　仪器的状态报告 89

3.9.1　状态报告的基本结构和操作 89

3.9.2　器件状态拜特结构 91

3.9.3　服务请求产生 91

3.9.4　推荐的器件通用状态数据结构 94

3.9.5　必须实现的标准状态数据结构 96

3.9.6　并行查询响应处理 98

3.10　公用命令 99

3.10.1　公用命令和询问集 99

3.10.2　公用命令和询问语义 101

3.11　GPIB器件的初始复位操作 106

3.11.1　三级复位命令与操作 106

3.11.2　电源通复位要求 106

3.12　可程控仪器标准命令SCPI 107

3.12.1　SCPI的目标 107

3.12.2　SCPI仪器模型 108

3.12.3　标准命令的句法和型式设计指南 109

3.12.4　SCPI命令树图概要 112

3.12.5　数据交换格式 114

习题与思考题 116

参考文献 117

第4章　GPIB系统的主控机 118

4.1　主控机的特点 118

4.2　直接驱动式控制机 119

4.2.1　接口硬件 119

4.2.2　软件系统 120

4.2.3　应用举例 121

4.3　语言扩充式控制机 124

4.3.1　UESTC-1430 Ⅲ型接口硬件 125

4.3.2　μPD7210 126

4.3.3　软件系统 137

4.3.4　应用举例 160

4.3.5　扩充C语言函数库 164

4.3.6　Borland C++ 3.1函数库 167

4.4　子程序调用式控制机 172

4.4.1　接口硬件 173

4.4.2　接口软件包 173

4.4.3　测试程序举例 183

4.4.4　IBIC的使用 188

习题与思考题 190

参考文献 190

第5章 自动测试系统的组建 192

5.1　概述 192

5.2 自动测试系统的组建工作 193

5.3　测量仪器的准备 194

5.4　主控机的准备 197

5.5 自动测试系统的联接 205

习题与思考题 207

参考文献 207

第6章　自动测试系统举例 208

6.1　无控者的系统 208

6.2　小功率计的调零和读数 213

6.3　扫频测量系统 216

6.4　增益和衰减测量系统 223

6.5　功率探头的定标 229

6.6　信号发生器检定系统 235

6.7　压控振荡器特性的测量 241

6.8　微波网络的自动分析 254

习题与思考题 266

第7章　模块式仪器测试系统 267

7.1　模块式仪器测试系统的发展 267

7.2　VXIbus模块式仪器测试系统结构模型 268

7.2.1　物理结构示意 269

7.2.2　VXIbus器件模型 269

7.2.3　VXIbus测试系统模型 272

7.3　VXIbus总线物理接口 275

7.3.1　VXIbus总线结构 275

7.3.2　高性能微机工业总线物理接口 276

7.3.3　面向仪器类总线信号线功能 280

7.4　VXIbus器件及其通信规程 281

7.4.1　器件的基本配置 281

7.4.2　VXIbus总线系统通信规程模型 283

7.4.3　消息基器件的通信规程 284

7.5　VXIbus仪器操作规程 287

7.5.1　VXIbus仪器基本操作协议 288

7.5.2　VXIbus IEEE488.2仪器 289

7.6　VXIbus总线系统管理 289

7.6.1　系统共用资源器件 289

7.6.2　系统的初始化操作过程 291

7.6.3　器件的初始化过程和终止操作 291

7.6.4　资源管理器对VXIbus总线系统的组态过程与算法 294

7.7　VXIbus测试系统主控计算机与编程环境 297

7.7.1　内嵌式主控计算机 297

7.7.2　外接式GPIB控制器与488-VXIbus接口 299

7.7.3　MXIbus与接口 300

7.7.4　测试编程环境 302

7.8　测试系统开发指南 305

7.8.1　测试系统的组建 305

7.8.2　系统开发手段 306

习题与思考题 307

参考文献 307

第8章　自动测试的发展 308

8.1　第三代自动测试系统 308

8.2　可程控测试接口 314

8.3　测试技术的革新 316

8.4　测试设计的策略 320

8.5　测试的策略 323

8.6　被测件的可测性 324

参考文献 327

附录A　GPIB消息真值编码表 328

附录B　GPIB接口功能子集 331