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目 录 1

第一篇 弱电技术的接触问题 1

第1章 基础 1

1.1 电接触特性的科学基础（H．霍夫特） 1

1.1.1概述 1

1.1.2接触电阻 1

1.3.6结语 6

1.5.2接触电阻的统计分布与接触压力和时间的关系 7

1.1.3表面膜的过热温度 9

2.4.1 概述 12

1.1.4容许电负荷 13

1.1.5接触粘附 16

1.1.6电磨损 17

1.1.7无腐蚀条件下的寿命 23

1.1.8接触材料上的表面膜 23

1.1.9可靠性和材料 31

1.5.3接触电阻与其离散性之间的关系 33

1.2关于RCL电路中燃弧时间及转换能量的确定（H．J．托尔） 34

1.2.1 概述和问题的提出 34

1.2.2燃弧时间的计算 37

1.2.3电流时间曲线 38

1.2.4电流时间曲线的测量 43

1.2.5结语 44

1.3.1 概述 49

1.3静止接触的噪声（K．坦内贝尔格） 49

1.3.2噪声与电阻的关系 50

1.3.3接触噪声与频率的关系 57

1.3.4测量位置 57

1.3.5测量 59

1.4弱电流技术的接触的不稳定性试验（A．克劳斯） 64

1.5接触电阻的统计分析（J．乌尔比希） 74

1.5.1 概述 74

1.5.4由接触电阻的平均值求故障概率 86

2.1.1触头材料经济性和适用性的选择 89

第2章 触头材料和工艺问题 89

2.1 通信技术的新型触头材料的试验（H.亨塞尔U.迪姆H．尤雷） 89

2.1.2在ATZ65号自动电话局中的运行试验 90

2.1.3在试验室进行的寿命试验 90

2.1.4在有害物质影响下触头性能的试验 95

2.1.5触头测试仪 96

2.1.6结语 97

2.2关于发展银钯基触头材料的金属学问题（D．吕利克） 98

2.2.1 概述 98

2.2.2材料性能 99

2.2.3触头性能 109

2.2.4讨论和结论 114

2.3触头材料AuAg17Ni的应用研究（G．贝尔W．德恩克） 117

2.3.1试验参数 118

2.3.2开关触头的试验结果 120

2.3.3开关装置的试验结果 123

2.3.4对试验结果的评价 124

2.4弱电流微型触头的制造和试验（B．克劳米勒） 126

6.1.3阻挡层场效应晶体管（SFET） 127

2.4.2把A3和A8Pd30微型触头焊到德银扁簧上的工艺试验 127

2.4.3在MKS试验样品上进行电测量的结果 132

2.4.4研究工作成果的经济效益 137

2.4.5结语 137

3.1 关于低温下镀层触头扩散的可能性（A．黑斯内尔） 143

3.11 概述 143

3.1.2由于体积扩散引起的材料传送 143

第3章 镀层问题及使用条件 143

3.1.3薄镀层中扩散短路和扩散的特点 144

3.1.4镀层系统的扩散模型 148

3.1.5结语 157

3.2 在低温下Au-Ag系统的扩散（A．黑斯内尔H．斯坦格G．米勒W．布雷特施奈德） 160

3.3硅对弱电流接触的影响（H．马丁） 163

3.3.1 概述 163

3.3.2硅油的化学结构及对开关触头的影响机理 163

3.3.3试验的实施 165

3.3.4 试验结果 167

3.3.5对试验结果的总结 174

3.4.1 概述 178

3.4德意志邮电局通信设备运行室内的有害物浓度（E．凯塞尔） 178

3.4.2试验结果 179

3.4.3对运行室的气候要求 183

3.4.4对试验的气候要求 184

第4章 接触特性及可靠性 185

4.1 镀层的贵金属静触头发生故障的原因（H．霍夫特） 185

4.1.1 概述 185

4.1.2贵金属镀层对接触电阻的影响 185

4.1.3实用的贵金属镀层及其作用 188

4.1.4镀层触头上的表面膜问题 193

4.2在外来粒子影响下接触元件的稳定性（O．W．科米茨基Ju．Sch．比格洛夫G．M．科尔松斯基） 197

4.2.1 概述 197

4.2.2结语 200

4.2.5确定粒子从给定表面区段到达故障范围的概率的试验步骤 202

4.2.3求K．的试验步骤 202

4.2.4在外来粒子掉入故障范围内时，求故障概率的试验步骤 202

4.3在大的电感性负载下微型电键寿命试验（M．克劳斯H．J．托尔D．兰格R．蒂莱R．里希特尔） 203

4.3.1 概述 203

4.3.2试验回路及提出的任务 203

4.3.3测量方法 205

4.3.4试验结果及其讨论 206

4.3.5结语 210

4.4 CR灭弧电路对电感性负载的保护管接点寿命的影响（A．皮特科夫斯基T．达布罗夫斯卡W．弗兰茹克） 212

4.4.1概述 212

4.4.2试验大纲 213

4.4.3试验结果 215

4.4.4对试验结果的分析 217

4.4.5结语 217

4.5液态氮介质中的保护管接点的一些特性（B．米德青斯基T．卓尔里尔茹克） 218

4.5.1 概述 218

4.5.2舌簧继电器的耐压强度 219

4.5.3开断能力和寿命 220

4.5.4结语 227

4.6高频接点的接触电阻（R．里希特尔） 228

4.6.1触头的几何形状 228

4.6.2高频接触模型 231

4.6.3高频接触电阻的测量方法 232

4.6.4在老化的高频接插元件上测量反射系数 234

4.6.5用同轴谐振器测量衰减 236

5.1.2动触头的主要参数 241

第5章 测量技术 241

5.1 弱电流技术的接触研究中数字测量台的使用可能性和范围（H．J．托尔D．兰格H．霍夫特） 241

5.1.1概述 241

5.1.3决定寿命的现象 243

5.1.4接触回路电阻的测量 244

5.1.5接触回路电阻的求值 248

5.1.6对开断和关合过程中的触头进行测量 251

5.1.7在开断的触头上测量 255

5.1.8结语 256

5.2弱电流接触的寿命和可靠性的自动测量台（H．托尔D．兰格K．舍费M．克劳斯） 258

5.2.1 概述 258

5.2.2 用恒定电流测量接触回路电阻 258

5.2.4接触回路电阻的自动测量台 261

5.2.3测量台的预计使用目的 261

5.2.5子程序选择 267

5.3接触电阻的自动测量台和计值（F．米勒M．维德曼K．阿斯穆斯） 275

5.3.1 概述 275

5.3.2 自动测量装置的描述 276

5.3.3测量序列的计值 276

5.3.4结语 289

5.4对操作中的触头统计的时间测量方法（D．兰格K．D．齐克曼特尔） 290

5.4.1测量技术问题的提出 290

5.4.2确定随机矩形脉冲序列参数的测量方法 292

5.4.3运行试验和测量结果 299

5.5接插元件自动试验设备的分析和控制装置（W．贝尔哈特C．克里斯克H．J．珀茨施H．罗斯内尔G．福格特H．韦德尔F．魏里希） 304

5.5.1 概述 304

5.5.2结构和工作原理 305

5.5.3插拔装置 306

5.5.4测量台 308

5.5.5结语 311

5.6测量接触元件的接触回路电阻时热过程的应用（J．卡奇马雷克H．J．维尔茨巴） 313

第6章 电子开关原理 320

6.1 以半导体元件为基础的开关原理（G．埃贝斯特R．布鲁姆梅） 320

6.1.1概述 320

6.1.2双极型晶体管 321

6.1.4.MIS晶体管（MISFET） 329

6.1.5晶闸管 332

6.1.6集成电路 337

6.1.7结语 339

6.2.1 概述 341

6.2玻璃半导体的工艺和特性（H．J．维尔茨巴P．弗罗钦斯基） 341

6.2.2控制玻璃中可转换结构变化的可能性 343

6.2.3非晶态的半导体材料 350

6.3 单稳态硫族化合物玻璃阈值开关的稳定性试验（C．迪普曼） 352

6.3.1 概述 352

6.3.2模型研究 353

6.3.3稳定性问题 355

6.3.4试验结果 356

6.3.5使用比较 358

6.4 电子电路中可拆卸的光电子耦合器（G．福格特H．韦德尔） 361

6.4.1光电子耦合原理 361

6.4.2作四端网路用的光电子耦合器 363

6.4.3运行条件的分析 366

6.4.4误差的影响 370

6.4.5结语 373

6.5几何形状和环境对可拆卸的光电子耦合器的影响（F．施瓦茨K．吉赛莱G．福格特H．韦德尔） 375

6.5.1各种影响因素 376

6.5.2几何参数的影响 376

6.5.3环境参数的影响 383

6.5.4结语 391

6.6可拆卸的光电子耦合器的动态特性（U．埃米希G．福格特H．韦德尔） 392

6.6.1试验对象的限定 392

6.6.2传输特性曲线——传输系数 393

6.6.3非线性失真的测定 397

6.6.4噪声特性 398

6.6.5不同因素对上限频率的影响 405

6.6.6上升时间 407

第二篇 强电流技术的接触问题 411

第1章 线接触温度的几种计算方法（J．莫尔纳） 411

1.1 概述 411

1.2线接触的温升微分方程 411

1.3用热流网确定温度 413

1.4计算结果与测量结果的比较 415

1.5附录 417

第2章 强电流接触闭合状态下的接触电压（E．瓦尔丘克） 420

2.1概述 420

2.2试验方法 420

2.3 电接触的伏安特性曲线 421

2.4软化电压和熔化电压 423

2.5接触电压的统计 427

第3章充氮的灭弧室中双断口触头系统的弧隙介质恢复强度（K．莫舍科夫D．切尔内法） 429

3.1 概述 429

3.2试验装置和研究条件 429

3.3试验结果 430

3.4对试验结果的讨论 430

第4章 直流接触器中Ag-CdO触头与Ag-Ni触头的特性曲线比较（I．查拉科夫 1．卡萨科夫A．克拉斯特夫P．布罗法） 434

4.1概述 434

4.2试验条件 435

4.3试验结果 435

4.4对试验结果的讨论 437

第5章 额定1 00A、500V的断路器中AgC、AgNi和AgW触头材料的应用（K．莫舍科夫L．佩切夫G．克里斯托夫M．卡萨科夫） 439

5.1 概述 439

5.2试验方法及试验条件 439

5.3试验结果 441

5.4对试验结果的分析 444

第6章 烧结金属材料的强电流触头在液氮中的特性（B．米勒 H．韦塞尔） 447

6.1理论观点 447

6.2试验装置 448

6.3测量结果 449

6.4结语 457

第7章 铜触头在氮气中持续运行时的情况（K．莫舍科夫T．伊万切夫） 459

7.1 概述 459

7.2试验条件和试验方法 459

7.3试验结果 460

7.4对试验结果的讨论 463

第8章 低电压混合式开关的使用范围（M．明切夫Z1．克马洛法I．卡萨科夫A．克拉斯特夫I．查拉科夫） 465

第9章 混合式接触器触头的寿命（Z1．克马洛法I．查拉科夫M．明切夫） 471