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材料分析测试技术 材料X射线衍射与电子显微分析
周玉，武高辉编著1998 年出版283 页ISBN：7560313388本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术...
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材料分析测试技术：材料X射线衍射与电子显微分析
周玉，武高辉编著2007 年出版311 页ISBN：9787560313382本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术...
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Ⅳ族、Ⅲ-Ⅴ和Ⅱ-Ⅵ族半导体材料的特性
（日）SADAOADACHI著2009 年出版356 页ISBN：9787030250957本书主要介绍IV族、III-V和II-VI族半导体材料的电学性能、光学特性、热学特性、力学特性等性质。本书包括两个方面：一方面描述各种IV族、III-V和II-VI族半导体材料的关键特性，另一方面从固体物理学的角度出发...
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典型半导体团簇及组装材料的结构和电子特性
雍永亮著2017 年出版105 页ISBN：9787121313950典型半导体团簇及其团簇组装材料的结构及其电子性质的研究是当前团簇科学研究的热点，本书采用第一性原理中的各种方法对系列典型的半导体团簇的几何结构和电子性质等进行理论研究，发现该类团簇的结构及其成键...
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