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半导体材料测试与分析
杨德仁等著2010 年出版381 页ISBN：9787030270368本书主要描述半导体材料的主要测试分析技术，介绍各种测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和分析实例，主要包括载流子浓度(电阻率)、少数载流子寿命、发光等性能以及杂质和缺陷的测试，其测试分析技术涉及到...
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半导体物理与测试分析
谭昌龙主编2012 年出版152 页ISBN：9787560336480《半导体物理与测试分析》结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章，主要内容为：半导体的基本性质；半导体中杂质和缺陷能级；平衡态半导体中载流子的统计分布；半导体的导电性；非平衡半导体......
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材料现代分析与测试技术
王晓春编著2010 年出版304 页ISBN：9787118063486本书主要从几个方面介绍：X射线衍射分析、电子显微分析、热分析、红外吸收光谱分析、光电子能谱分析和材料光学性能测试的基本理论、仪器结构原理、测试结果的分析处理及应用。...
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材料分析测试技术 材料X射线衍射与电子显微分析
周玉，武高辉编著1998 年出版283 页ISBN：7560313388本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术...
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材料分析测试技术：材料X射线衍射与电子显微分析
周玉，武高辉编著2007 年出版311 页ISBN：9787560313382本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术...
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