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半导体器件可靠性技术
（日）安食恒雄主编；日本松下电子工业株式会社编；周南生等译1991 年出版352 页ISBN：7560601669本书论述了影响半导体分立器件和集成电路可靠性问题的各种因素及其解决办法，并对正在研究的课题也作了介绍。