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半导体测试技术原理与应用
刘新福等编著2007 年出版304 页ISBN:7502441018本书讨论了微区电学参数测试的重要性,综述了当今已研究出来的各种半导体测试方法的特点;详细分析四探针测量技术的基本原理,重点讨论常规直线四探针法、改进范德堡法和改进Ry-inaszewski四探针测试方法;讨论测...
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半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术
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半导体光谱分析与拟合计算
陆卫,傅英著2014 年出版219 页ISBN:9787030395665本书总结了作者多年来在半导体光谱方面的研究工作,致力于光谱特点的分析,用量子力学以及必要的计算机手段萃取了光谱所反映的物质微观层次的本性。提供的计算机程序以及相关的例子将有助于读者边学习边应用。...
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