高等学校试用教材 原子核物理实验方法 下PDF电子书下载

第十一章 中子探测技术 1

第一节 中子探测的基本原理 1

一、核反应法 2

二、核反冲法 3

三、核裂变法 4

四、活化法 5

第二节 常用的中子探测器 6

一、气体探测器 6

二、闪烁探测器 10

三、半导体探测器 13

四、其他中子探测器 15

第三节 中子能谱的测量 16

一、氢反冲法 16

二、6Li和3He谱仪 25

三、飞行时间法 26

四、晶体衍射法 34

第四节 中子通量及中子源强度的测量 36

一、概述 36

二、氢反冲法测量快中子通量 39

三、中子活化法测量中子通量 42

四、锰浴法测量中子源强度 46

五、用伴随粒子法测量快中子通量 48

第十二章 低水平放射性测量 50

第一节 测量系统的优质因子及探测极限 50

一、探测装置的优质因子 51

二、与探测灵敏度有关的几个概念 52

第二节 本底来源及降低本底的措施 56

一、本底的来源 56

二、降低本底的措施 57

一、低水平α计数 63

第三节 几种低水平放射性测量装置 63

二、低水平β计数 64

三、低水平γ放射性的测量 68

第十三章 核反应截面测量 72

第一节 带电粒子反应截面测量 72

一、物理原理 72

二、微分截面和积分截面测量 75

三、共振反应截面测量 78

第二节 靶室和制靶技术 82

一、靶室 82

二、制靶技术 85

一、中子全截面测量 90

第三节 快中子反应截面测量 90

二、中子散射截面测量 96

三、中子俘获截面测量 101

四、中子裂变截面测量 103

第十四章 粒子鉴别技术 105

第一节 脉冲形状甄别方法 105

一、闪烁探测器中的脉冲形状甄别 106

二、半导体探测器中的脉冲形状甄别 113

三、正比计数器中的脉冲形状甄别 120

一、工作原理 121

第二节 飞行时间方法 121

二、装置描述 123

三、定时探测器 126

第三节 探测器望远镜方法 128

一、工作原理 128

二、探测器 132

三、鉴别能力 134

四、多重探测器望远镜系统 136

五、探测器望远镜与飞行时间方法的组合 138

第一节 引言 142

第二节 长核寿命的测量方法 142

第十五章 核寿命的测量 142

一、直接测量法 143

二、比放射性法 145

三、测定子核含量法 146

第三节 短核寿命的测量方法 147

一、直接测量的方法 148

二、延迟符合和微波调制方法 153

三、核反冲法 157

四、确定能级宽度的方法 165

五、非弹性散射方法 173

六、阻塞效应 175

一、中子活化分析原理 180

第十六章 核辐射分析技术在痕量元素分析中的应用 180

第一节 中子活化分析 180

二、中子活化分析中的干扰反应 182

三、中子活化分析设备和辐照条件选择 183

四、测量和数据分析 183

五、中子活化分析应用实例 184

第二节 带电粒子核反应分析 189

一、带电粒子活化分析法 189

二、瞬发辐射分析法 193

第三节 X荧光分析 199

一、基本原理 199

二、X荧光分析的实验装置和方法 204

三、样品分析 207

第四节 离子背散射技术 211

一、基本原理 211

二、实验装置和条件选择 215

三、背散射技术的应用实例 216

第五节 质谱分析技术 218

一、质谱分析的基本原理 219

二、离子源和离子收集器 221

三、分辨本领和灵敏度 222

一、辐射源的选用 224

二、放射源的制备 224

第一节 概述 224

第十七章 常用辐射源 224

三、放射源的包装和安全检验 225

四、放射源产品等级 226

第二节 α和重带电粒子源 226

一、同位素α放射源 226

二、加速器 228

第三节 β辐射源 230

一、概述 230

三、β＋放射源 231

二、β-放射源 231

四、内转换电子源 232

五、电子加速器 233

第四节 γ和X射线源 234

一、概述 234

二、低能光子源 235

三、常用γ参考源 238

四、高能γ射线源 239

五、穆斯堡尔源 240

六、γ辐照源 240

一、同位素中子源 241

第五节 常用中子源 241

二、加速器中子源 244

三、反应堆中子源 247

第十八章 测量误差和数据处理 250

第一节 等精度观测下偶然误差的估算 250

一、观测值和偶然误差的正态分布 250

二、算术平均值及其分布 251

三、方差的估值 252

四、置信度和置信区间 255

五、偶然误差和测量结果的表示方法 257

六、估算均方根差的最大误差法和极差法 259

一、权的概念和加权算术平均值 262

第二节 不等精度观测误差的处理 262

二、加权平均值的均方根差 264

三、单位权方差的估算 265

四、分组数据的处理 268

第三节 系统误差 273

一、系统误差对测量结果的影响 273

二、系统误差的表示和确定 274

三、系统误差的发现和检验 275

四、系统误差的限制和消除 279

一、二维随机变量 281

第四节 多维数据组和间接测量的误差处理 281

二、间接测量中的误差传递 283

三、误差分配和误差分析 286

第五节 用最小二乘法作参数估计 289

一、最小二乘法原理 289

二、线性参数的最小二乘估计 290

三、最小二乘估计的精度计算 294

四、不等精度观测下线性参数的最小二乘估计 297

五、例题 299

六、非线性参数的最小二乘估计 301

一、用最小二乘法按多项式作曲线拟合 302

第六节 曲线拟合法 302

二、拟合曲线的置信区间 304

三、多项式拟合阶数的选取 305

四、正交多项式族在拟合观测数据时的应用 307

附录1 几种常用分布的基本性质 312

附录2 估值的评选标准 314

附录3 标准偏差s的均方根差 314

附录4 最小二乘残差平方和R的统计性质 315

附录1 常用物理常数数值表 317

附录2 正态分布概率积分表 317

附录 317

附录3 x2分布概率积分表 318

附录4 t分布概率积分表 319

附录5 F分布概率积分表 320

附录6 放射性衰变计算表 322

附录7 常用核素表 323

附录8 按γ能量排列的常用参考源表 326

附录9 常用衰变纲图（简化） 328

附录10 平面源所张平均立体角的计算 329

附录11 各元素的KX射线能量、相对强度和荧光产额 336

附录12 几种探测介质和窗材料对低能光子的质量吸收系数 340