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半导体材料测试与分析
杨德仁等著2010 年出版381 页ISBN：9787030270368本书主要描述半导体材料的主要测试分析技术，介绍各种测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和分析实例，主要包括载流子浓度(电阻率)、少数载流子寿命、发光等性能以及杂质和缺陷的测试，其测试分析技术涉及到...
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氮化镓功率晶体管 器件、电路与应用 原书第2版
（美）亚历克斯·利多等著；段宝兴，杨银堂译2018 年出版222 页ISBN：9787111605782本书共包括11章：第1章概述了氮化镓（GaN）技术；第2章介绍了GaN晶体管的器件物理；第3章介绍了GaN晶体管的驱动；第4章介绍了GaN晶体管电路的版图设计；第5章讨论了GaN晶体管的建模和测量；第6章详细介绍了硬开关技术；第7章...
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氧化锌半导体材料掺杂技术与应用
叶志镇，吕建国，张银珠等著2009 年出版190 页ISBN：9787308066242ZnO是一种新型的Ⅱ-Ⅵ族半导体材料，具有许多优异的性能。但由于ZnO存在诸多的本征施主缺陷（如空位氧Vo和间隙锌Zni），对受主产生高度自补偿作用，天然为n型半导体，难以实现p型转变。ZnO薄膜p型掺杂的实现是ZnO基光...
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