质谱学方法与同位素分析PDF电子书下载

第一章 质谱仪器 1

一、离子源 2

1 几种常用的电离方法 2

2 几种发展中的电离方法 7

3 离子的引出、加速和聚焦 14

4 各种离子源的比较 16

二、质量分析器 19

1 磁场偏转——空间位置的展开 20

2 飞行时间——时间先后的展开 24

3 直流－高频四极场——质量“滤过” 26

4 几种常见场型 29

三、离子检测器 31

1 法拉第筒 31

2 照相板 32

3 二次电子倍增器 33

4 离子－电子－闪烁检测器 35

四、进样装置 36

1 气体（蒸气）外部进样 36

2 固体、液体探针式进样 38

3 组件式进样 39

2 分辨本领 40

1 质量范围 40

五、质谱仪器的主要参数 40

3 灵敏度 43

4 峰形 44

5 精密度和准确度 47

六、应用与仪器选型 48

1 整机选型 48

2 部件组合 48

1 质谱学的特点 50

2 研究方法学的意义 50

一、质谱学方法的提出及其含义 50

第二章 质谱学方法 50

3 质谱学方法的含义 51

二、理想分析过程的五个环节 51

1 样品准备 51

2 电离过程 62

3 束流的出射 67

4 束流的接收检测 72

5 数据处理 72

三、分析过程的延伸与扩展 73

1 色谱－质谱联用 73

2 附有反应器的电离过程 77

3 激光束的引入 83

4 质谱仪器的级联 86

5 复合质谱装置 92

6 特殊知识与质谱信息的结合 98

四、基本功用 100

1 关于质谱学方法的示意图解 100

2 能够提供的信息 101

3 进入各学科的途径 102

4 方法的局限性 103

第三章 质谱学的应用 104

一、原子质量精测 104

1 有关术语 104

2 基本方法 106

3 高分辨质谱仪器 107

4 峰匹配技术 109

5 原子质量精测的意义 112

二、火花源杂质分析 113

1 基本方法 113

2 电极技术 115

3 特征谱线 117

4 照相板检测 118

5 电检测 119

6 灵敏度校正 121

7 杂质含量的计算 122

1 方法概述 126

三、有机质谱分析 126

2 分子量测定 127

3 定量分析 132

4 结构分析 135

四、稳定同位素标记物质的检测 138

1 同位素标记方法的基础 138

2 稳定同位素标记及其特点 139

3 标记物质用作定量分析的内标 140

4 标记物质用于过程的示踪 140

6 标记化合物的标记比度和位置的测定 141

5 放射性与稳定同位素双标记 141

五、同位素分析 144

1发展简史 145

2 基本方法 146

3 技术特点 146

4 主要应用 147

第四章 同位素分析的一般实验方法 150

一、工作方案 150

1 离子源类型 150

2 分析化合物 151

4 质谱扫描方式 154

3 离子流检测方式 154

二、离子源的使用 159

1 电子轰击源的使用 159

2 表面电离源的使用 160

3 涂样工艺 165

三、预备实验 168

1 识谱和选峰 168

2 获得稳定离子流的条件 169

3 注意离子流比值的变化 170

4 规程化与监控参数 171

1 真空烘烤 172

四、辅助实验手段 172

2 一般维护要点 173

3 离子源的解体清洁 173

4 “干”式清洁 174

五、仪器和方法的校准 176

1 同位素丰度的相对测量相绝对测量 176

2 分析误差的分类 177

3 校准过程 177

4 同位素基准物质 181

5 K校-R曲线 184

2 仪器的日常监测 185

1 标准样品 185

六、标准样品和仪器的日常监测 185

3 标准样品在分析中的运用 186

七、测定值的处理 188

1 常用术语 188

2 插值问题 192

3 测定值的舍弃 194

第五章 同位素分析中的几类问题 197

一、分馏效应 197

1 固体分析中的分馏效应 198

2 一个单带离子发射模型 199

3 样品蒸发过程的分馏模型 204

4 气体分析中的分馏效应 210

5 克服分馏效应的方法 214

6 多比值同位素稀释法校正分馏效应 215

二、记忆效应 220

1 记忆的起因 220

2 记忆因子 221

3 克服记忆效应的方法 222

三、叠加峰问题 225

1 本底峰 226

2 空白值、杂质峰 227

3 同位素贡献的叠加峰 229

4 一个扣除实例 231

四、强峰拖尾 233

1 拖尾的起因 234

2 弹性散射的理论分析结果 235

3 减小强峰拖尾的途径 235

五、辅助磁场效应 237

1 辅助磁场效应的产生 237

2 一个理论分析结果 238

3 克服辅助磁场效应的方法 239

1 效应的解释——离子轨迹的计算结果 241

六、加速电压效应 241

2 克服加速电压效应的方法 244

七、二次电子倍增器的质量歧视效应 245

1 离子－电子转换系数与离子质量的关系 245

2 倍增器质量分歧效应的校正 249

第六章 同位素分析的几种情况 251

一、高准确度和高精密度分析 251

1 几个事例 252

2 精确分析方法的要点 255

3 控制可重复的分馏进程 256

4 减小“次间”数据发散 261

5 减小离子流瞬间抖动的影响 262

二、极微样品分析 266

1 几个事例 266

2 影响分析灵敏度的因素 270

3 惰性气体的静态分析和循环分析 271

4 极微固体样品的表面电离 276

5 溅射源分析 280

6 仪器的传输效率和检测能力 281

7 污染和本底问题 282

三、极低或高纯丰度的分析 283

1 丰度灵敏度 283

2 几个事例 284

3 串列质谱计 285

4 减速透镜 290

四、同位素稀释法 292

1 方法的原理 292

2 方法的特点 294

3 误差传递和最佳稀释 296

4 几个应用事例 300

附录 308

参考文献 331

内容索引 344