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数字系统测试和可测试性设计
（美）塞纳拉伯丁·纳瓦比（ZAINALABEDINNAVABI）著；贺海文，唐威昀译2015 年出版370 页ISBN：9787111501541这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用...
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数字系统测试和可测性设计
阿布拉莫维奇（Abramovici，M.），布鲁尔（Breuer，M.A.），弗里德曼（Friedman，A.D.）著2004 年出版652 页ISBN：7302077479本书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及范围等；第9至第1...
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实用软件测试 来自硅谷的技术、经验、心得和实例
李幸超著2006 年出版207 页ISBN：7121032643本书系统地介绍了有关软件测试的基本知识和全过程。作者从软件测试的规划和方案设计，到测试分类、各种测试技术、手动测试、测试自动化、测试报告、测试管理，以及怎样选择和使用自动化测试工具等，都进行了深入...
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检测系统数字化测试技术
姚敏，王海涛，赵敏编著；王欣海主审2013 年出版254 页ISBN：9787111435389本书介绍了检测系统中电子电路的分析和设计方法，全书共分11章，主要内容包括运算放大器、信号调理电路、锁相环电路、模拟开关、采样／保持器、D/A转换器、A/D转换器以及抗干扰技术等内容。本书特别注重检测电路...
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超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统
（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译2005 年出版511 页ISBN：7121014904VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...